分光干渉式ウェーハ厚み計 SF-3
| 特長 | ●厚いウェーハなどの厚膜測定 （膜厚範囲：6～1300µm ※Si換算） ●高速測定でリアルタイムに研磨モニタが可能 ●装置組み込みからシステム仕様まで提案可能 ●主に半導体分野で活躍！ウェーハ基板の厚み評価のアプリケーションを提供 |
広島・山口・島根・鳥取・福岡を営業エリアとする試験機・測定器・計測器・理化学機器などの総合商社です
広島・山口・島根・鳥取・福岡を営業エリアとする試験機・測定器・計測器・理化学機器などの総合商社です
| 特長 | ●厚いウェーハなどの厚膜測定 （膜厚範囲：6～1300µm ※Si換算） ●高速測定でリアルタイムに研磨モニタが可能 ●装置組み込みからシステム仕様まで提案可能 ●主に半導体分野で活躍！ウェーハ基板の厚み評価のアプリケーションを提供 |
